非常锋利的探针尖端和万用表的快速连续性测试有什么实际好处？

我在 google 和 ee.se 中搜索了一段时间，但结果主要包含一个带有尖头探针或类似功能的 dmm 销售广告。也许找不到正确的搜索关键字，但也找不到这里回答的这个问题。

在 EEVblog 中，Dave Jones 多次提到快速连续性测试的重要性，但只有一次以更快、更方便的方式测试 IC 上的多个引脚的示例。公平公正，但仅适用于电子产品。这稍微驱散了迷雾，但我记得我父亲的一个朋友说过类似的话，我很确定他是电工的。最重要的是，当时的 IC 并没有那么多产。

尖端的锋利度，我可以合理化，尽管接触面积较小，但在实践中可能会给您更好的机械接触，特别是如果探针在较软的金属上形成微型凹痕。更容易穿透非常锡的氧化层或其他杂质。电流喜欢从尖锐的尖头表面更好地和平坦地流动，但不确定如何在低于 kV 范围 (U<30V) 且没有电弧的情况下将其转化为实践。

是否有更多的心理观点我的更好，因为是（更大，更快，更敏锐，更强等）？钝有多钝，实际上有多锋利？如果有实际差异，是否明显？可以量化吗？