MM-PC 连接器标准中 D 区缺陷限制的目的是什么 (IEC 61300-3-35)
网络工程
纤维
光学
2022-02-19 09:58:09
1个回答
并非所有缺陷都是负面的。任何突出的缺陷或松散的污染物颗粒都会阻止接触(保持连接器面分开),划伤配合连接器,或者在松散颗粒(例如由刮擦配合连接器产生的颗粒)的情况下划伤核心。
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